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歷史雜誌

依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:郭啟全不同矽膜厚度與預熱溫度之矽膜再結晶特性研究與分析

作者:張俊隆、鄭智傑、張津魁自動瑕疵檢測在TFT雷射修補機的應用

作者:柯順升、林昆蔚雷射感測調光模組於合板缺陷檢測系統之應用

作者:李韋辰、張津魁、黃國唐、蔡雅惠從傳產到智慧製造─汽車後視鏡智動化

作者:吳鴻材、曾惠君、周永樂、謝其懋、王俊傑基於應變感測的間接式刀具狀態監控

作者:王俊傑、涂康賢、何志傑軸承加工品質之線上預測方法

作者:張耿豪、林毓庭、邱威堯、蔡雅惠多視角3D全形貌建模與缺陷檢測技術簡介

作者:李韋辰、張津魁、黃國唐、蔡雅惠光滑曲面異常之視覺檢測

作者:詹瑞麟、沈宗福、吳江龍、盧江溪2016全球馬達節能推動現況與趨勢

作者:黃仲宏半導體工業中的自動光學檢測發展

隨著技術的持續進步和全球的數位化趨勢，半導體工業已成為產業的核心。從智慧手機到雲資料中心，再到汽車和各種物聯網設備，半導體技術都發揮著至關重要的作用。隨著製程技術節點的不斷縮小，對晶片的性能要求日益增加，這使得半導體製程中的高精度檢測技術變得關鍵。現今的半導體工業面臨著巨大的挑戰和機會，人工智慧、高效能運算、高效能推理、高效能通訊等之所需的晶片，臺灣已具製造的完整生態系與AI晶片的製程技術，包括先進晶片的開發，臺灣的晶片製造業者將有一定的供給能力。不過我們也看到日美德等國家在半導體製程領域的急起直追，在這個競爭激烈的環境中，提高生產效率和產品品質是每家半導體製造商的首要任務。其中晶片自動光學檢測（Automated Optical Inspection, AOI）技術在製程中具有關鍵作用。AOI是一種利用光學技術進行圖像分析來檢測產品缺陷的技術，從電子製造到半導體，AOI在各個製造領域已有廣泛的應用，隨著人工智慧技術的不斷發展，AOI系統變得愈來愈高效能，它們能夠應對不斷變化的製造要求，支援更多複雜的檢測任務。此外AOI與工業自動化和物聯網技術的整合也不斷增加，提供了更多資料和分析選項，進一步提高了生產過程的視覺化自動化控制。

作者:卓嘉弘、顧逸霞、羅竣威、張柏毅、李正綱、李漢文、羅聖全半導體先進封裝製程量測技術

在人工智慧等應用需求的推動下，半導體元件正趨於微小化。摩爾定律預測積體電路上的電晶體數量每18到24個月就會增加一倍。然而，隨著接近物理極限，微小化速度已經減緩，為了克服摩爾定律的限制，半導體廠商提出了深度摩爾和超越摩爾技術，其中深度摩爾專注於進一步縮小電晶體尺寸，而超越摩爾則強調電路設計和系統優化。因此針對先進封裝技術，本文介紹了四種非破壞性光學量測技術：微凸塊量測、重分布層量測、晶圓鍵合量測以及薄化晶圓和薄膜厚度量測，並探討了它們在先進封裝製程中的應用和未來展望。