工研院打造全球最細探針卡 開創半導體測試新局
密度倍增複合材料探針卡 引領晶圓測試新時代 |【影】高強度高密度探針卡
工研院以三大創新技術打造密度倍增複合材料探針卡
「密度倍增複合材料探針卡」 引領晶圓測試新時代